第一章 单元测试

1、单选题：
石墨烯材料的形貌可以采用 （ ）.
选项：
A:分子光谱法
B:扫描电镜分析
C:热分析法
D:原子光谱法
答案: 【扫描电镜分析】

2、判断题：
扫描电子显微镜能达到原子级别的分辨率。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

3、判断题：
物相分析是指利用衍射的方法探测晶格类型和晶胞常数，确定物质的相结构。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【对】

4、单选题：
按照出射信号的不同，成分分析手段可以分为两类的是 （ ）。
选项：
A:X光谱和紫外可见吸收光谱
B:原子发射光谱和紫外可见吸收光谱
C:X光谱和电子能谱
D:核磁共振波谱和电子能谱
答案: 【X光谱和电子能谱】

5、单选题：
物质的化学组成及分子结构分析采用 （ ）.
选项：
A:扫描电镜分析
B:透射电镜分析
C:光分析法
D:热分析法
答案: 【光分析法】

第二章 单元测试

1、判断题：
突破光学显微镜分辨率的关键是寻找波长短又能聚焦的新型照明源。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【对】

2、判断题：
原子力显微镜只能检测导电样品。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

3、判断题：
扫描电子显微镜得到的图像，其放大的倍率等于样品上扫描幅度比上荧光屏上扫描幅度。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

4、单选题：
光学显微镜的成像过程包含（ ）。
选项：
A:既没有衍射过程野没有干涉过程
B:既有衍射过程又有干涉过程
C:只有衍射过程没有干涉过程
D:没有衍射过程只有干涉过程
答案: 【既有衍射过程又有干涉过程】

5、单选题：
样品表面凹凸部位产生的二次电子强度关系是（ ）。
选项：
A:凹处产生的二次电子强度高于凸起部分
B:凹处产生的二次电子强度低于凸起部分
C:无法比较
D:凹处产生的二次电子强度等于凸起部分
答案: 【凹处产生的二次电子强度低于凸起部分】

6、单选题：
扫描电子束应具有较( )的亮度和尽可能( )的束斑直径（ ）。
选项：
A:高、小
B:低、小
C:低、大
D:高、大
答案: 【高、小】

7、单选题：
原子力显微镜在接触模式下运行，具备哪两种成像方式（ ）。
选项：
A:恒高、恒力
B:恒压、恒流
C:恒高、恒流
D:恒压、恒力
答案: 【恒高、恒力】

8、多选题：
下列说法正确的是（ ）。
选项：
A:二次电子能量低于背散射电子
B:二次电子是在表层5~10nm深度范围内发射出来
C:背散射电子对表面状态敏感，能显示表面微区的形貌
D:背散射电子是被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子
答案: 【二次电子能量低于背散射电子;
二次电子是在表层5~10nm深度范围内发射出来;
背散射电子是被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子】

9、多选题：
扫描隧道显微镜主要常用的有哪几种扫描模式（ ）。
选项：
A:恒定作用力模式
B:恒定电流模式
C:恒定电压模式
D:恒定高度模式
答案: 【恒定电流模式;
恒定高度模式】

10、多选题：
原子力显微镜主要由以下那几个系统构成（ ）。
选项：
A:探针系统
B:扫描系统
C:反馈系统
D:检测系统
答案: 【探针系统;
扫描系统;
反馈系统;
检测系统】