绪论 单元测试

1、多选题：
本课程内容主要包含哪些知识（ ）。
选项：
A:混合信号集成电路的测试
B:集成电路测试理论基础
C:可测试性设计方法
D:集成电路ATE设备和测试基本方法
E:集成电路测试的基本概念和基本原理
答案: 【混合信号集成电路的测试;
集成电路测试理论基础;
可测试性设计方法;
集成电路ATE设备和测试基本方法;
集成电路测试的基本概念和基本原理】

第一章 单元测试

1、单选题：
通过仿真、形式验证等，检查设计的正确性，确定电路是否符合所有的设计规范，属于（ ）。
选项：
A:工艺监控测试
B:生产测试
C:可靠性测试
D:设计验证
答案: 【设计验证】

2、单选题：
对于器件中可能存在的桥接、短路、栅氧短路等物理缺陷，可采用何种测试方法 （ ）。
选项：
A:IDDQ测试
B:固定故障测试
C:耦合故障测试
D:延迟测试
答案: 【IDDQ测试】

3、单选题：
芯片测试、板级测试及系统级测试，其测试成本遵循 （ ）。
选项：
A:双倍法则
B:十倍法则
C:千倍法则
D:百倍法则
答案: 【十倍法则】

4、多选题：
量产前需要进行的测试包括（ ）。
选项：
A:设计验证
B:生产测试
C:特性测试
D:工艺监控测试
答案: 【设计验证;
特性测试】

5、多选题：
晶圆测试又被称为（ ）。
选项：
A:Wafer probe
B:Package Test
C:Circuit probe
D:Die sort
答案: 【Wafer probe;
Circuit probe;
Die sort】

6、多选题：
对芯片进行测试，选择测试设备时需考虑（ ）。
选项：
A:输入/输出引脚的数目
B:最高时钟频率
C:测试向量深度
D:定时精度
答案: 【输入/输出引脚的数目;
最高时钟频率;
测试向量深度;
定时精度】

7、多选题：
主要的测试硬件接口包括（ ）。
选项：
A:Load Board
B:Socket
C:Probe Card
D:Handler
答案: 【Load Board;
Socket;
Probe Card】

8、多选题：
典型的结构化的可测性设计方法包括（ ）。
选项：
A:扫描设计
B:内建自测试
C:边界扫描
D:Ad Hoc 方法
答案: 【扫描设计;
内建自测试;
边界扫描】

9、判断题：
Shmoo图是同时改变两个相互关联的参数，执行参数测试，得到表明测试结果是否通过的曲线图。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【错】

10、判断题：
可控制性是指从输入端将芯片内部逻辑电路至于指定状态的能力。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【对】

第二章 单元测试

1、单选题：
测量器件静态时漏极到地消耗的漏电流IDD采用的方法是（ ）。
选项：
A:加流测压
B:加压测流
答案: 【加压测流】

2、单选题：
测量器件的输出高电平VOH时，应给器件提供（ ）电流。
选项：
A:负
B:正
答案: 【负】

3、单选题：
测试激励的信号格式中延迟不返回零电平，数据转变不在T0，此格式为（ ）
选项：
A:SBC
B:RZ
C:RO
D:DNRZ
答案: 【DNRZ】

4、单选题：
自动测试设备ATE的部件精密参数测量单元，简称为（ ）
选项：
A:RVS
B:PMU
C:DPS
D:PE
答案: 【PMU】

5、单选题：
测试时为保护测试操作人员及测试硬件设备的安全，需要进行钳制设置，当驱动电压测量电流时，需进行（ ）
选项：
A:电流钳制
B:电压钳制
答案: 【电流钳制】

6、多选题：
进行功能测试时输入给被测器件管脚的信号包括哪些要素（ ）。
选项：
A:信号电平
B:测试向量
C:信号时序
D:信号格式
答案: 【信号电平;
测试向量;
信号时序;
信号格式】

7、多选题：
成品测试需要用到的设备和硬件资源是（ ）。
选项：
A:探针卡
B:自动测试设备ATE
C:机械手
D:负载板
答案: 【自动测试设备ATE;
机械手;
负载板】

8、多选题：
管脚电路PE板卡中可与DUT输出管脚连接的是（ ）
选项：
A:可编程电流负载
B:驱动电路
C:电压比较电路
D:与PMU的连接电路
答案: 【可编程电流负载;
电压比较电路;
与PMU的连接电路】

9、判断题：
建立时间是指数据输入信号比触发信号提前施加于器件输入端的最小时间。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【对】

10、判断题：
利用ATE进行测试时，对于非被测输入管脚可以悬空。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】